Cet instrument est né pour répondre au besoin des tests d'une nouvelle génération d'objectifs produits en masse sur des supports wafer c'est à dire une superposition de disques de verre optique. Des milliers de lentilles de petites tailles sont imprimées sur un unique empilement et doivent être testées individuellement avec une précision élevée tout en conservant une rapidité de test sans égal.
Dans cette version du WaveMaster® l'automatisation de la mesure et des alignements préalables est poussée à son maximum permettant la mesure en série du wafer dans son intégralité en moins de 3 secondes par lentille et en triant automatiquement les lentilles bonnes et mauvaises selon le critère choisi par l'utilisateur.