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    L’ellipsomètre nanofilm_RSE est un type spécial d’ellipsomètre, qui compare l’échantillon à une référence. En raison de l’orientation de la référence, aucun des composants optiques n’a besoin d’être déplacé ou modulé pendant la mesure, et le spectre haute résolution complet peut être obtenu rapidement en une seule mesure.

    De cette façon, 100 spectres par seconde sont acquis. La platine synchronisée XY permet l’acquisition d’épaisseur de film à grand champ en quelques minutes. L’ellipsomètre spectroscopique référencé combine la sensibilité élevée et la résolution d’épaisseur de couche d’un ellipsomètre (0,1 nm à 10 µm) à la vitesse la plus élevée du marché.

    Comparé à un ellipsomètre laser, il inclut les informations spectroscopiques comprises entre 450 et 900 nm. Ceci est important dans le cas où plusieurs paramètres de la couche traitée sont variables, comme par exemple l’épaisseur et la densité optique.